若把U盘作为一个整体，温度超过260度时，焊锡会开始熔化；三四百度的时候电路板会焦掉。总的来说，作为整体U盘必毁。如果只是考虑存储芯片内的数据，内存的信息是靠浮栅上锁住的游离电荷来记录的。具体来说，每个存储单元是一个双层多晶硅的晶体管，其中有一层多晶硅是与其他部分电气隔离的，称为浮栅。在一定的电压下，一部分电荷会跑到浮栅上或离开浮栅；但在正常电压下，浮栅上的电荷无法移动，就是不会丢失的信息。在高温下，浮栅上电荷的隧穿效应会增强。只要温度足够高，浮栅上的电荷量就会很快漏光，导致数据丢失。
